愛德萬測試近日宣布推出新一代氣冷式測試系統「T2000 AiR2X」，專為滿足評估及少量多樣的生產環境中，對於小型化、高成本效益測試機日益增長的需求而設。這款新系統不僅與既有的T2000測試系統完全相容，更在維持低功耗與氣冷散熱的前提下，其測試資源較前一代氣冷系統T2000 AiR提升了一倍。
T2000 AiR2X的問世旨在回應市場的多重需求，一方面針對T6500與T7700等舊型系列即將終止支援的汰換對策；另一方面則是滿足業界對精巧型氣冷測試機持續存在的升級需求。有鑑於全球氣冷式SoC測試系統裝機量龐大，新推出的T2000 AiR2X將有助於愛德萬測試在持續成長的市場中，進一步鞏固領先地位。
愛德萬測試T2000產品部門主管足立敏明表示：「精巧的氣冷式T2000 AiR2X與高密度、高針數的V93000系統，共同建構了完整的SoC測試解決方案，從氣冷式應用一路延伸至大規模數位化裝置，皆能全面涵蓋。」
足立敏明強調，T2000 AiR2X能顯著提升部署效率，簡化老舊測試平台的移轉流程，並在相同占地面積下，使測試資源容量翻倍；而V93000則提供先進大型SoC所需的高效能。兩者相輔相成，從評估到量產階段，皆能有效降低SoC的導入成本與環境影響，全面支援客戶創新。
在技術規格方面，T2000 AiR2X支援高度彈性測試配置，可搭載多達12個量測模組，功能涵蓋功能測試/掃描測試、高精密直流(DC)測試，以及最高可達320V的車用裝置高壓DC測試。該系統搭載獨特的多站點(Multisite)控制器功能，可大幅縮短量產測試時間。
T2000 AiR2X系統內建愛德萬T2000 RECT550效能板，靈活支援多種配置，並沿用T2000的程式開發環境，提供統一的支援架構及可擴充模組選項。此外，透過導入快速開發套件(Rapid Development Kit, RDK)，預期將大幅降低程式開發與除錯工作量，加快平台移轉與導入速度。
目前T2000 AiR2X已展開初期裝置評估，確認其廣泛適用領域，包含工業級MCU、消費性ASIC、車用與行動裝置電池IC以及電源類比應用。該系統預計於本月稍後正式上市供貨，協助客戶在快速演進的半導體市場中維持競爭優勢。
